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1.X射线光电子能谱仪可以分析固体样品表面除 H 、 He 以外的所有元素，包括元素种类及价态。2．并可以测定元素相对含量的半定量分析。通过角分辨法及 Ar 离子剥离法可以提供元素深度分布信息。3.线扫描或面扫描以得到线或面上的元素或化学态分布。4．成像功能。5．可进行样品的原位处理 AES ：可进行样品表面的微区选点分析（包括点分析，线分析和面分析）6．广泛应用于研究聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料。
生产厂商：美国赛默飞世尔科技（中国）有限公司
所在实验室：材料科学与器件研究院
存放位置：石湖校区 院士楼106 实验室
联系人：吴小帅
联系电话：登录后查看
收费标准：面议
设备状态：
1.X射线光电子能谱仪可以分析固体样品表面除 H 、 He 以外的所有元素，包括元素种类及价态。2．并可以测定元素相对含量的半定量分析。通过角分辨法及 Ar 离子剥离法可以提供元素深度分布信息。3.线扫描或面扫描以得到线或面上的元素或化学态分布。4．成像功能。5．可进行样品的原位处理 AES ：可进行样品表面的微区选点分析（包括点分析，线分析和面分析）6．广泛应用于研究聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料。