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4200-SCS型半导体特性分析系统主要用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率，适用于半导体器件、微电子器件、光电器件、纳米器件等测量。它提供了最先进的系统集成能力，为这些器件和测试结构的直流参数和脉冲测试分析提供了一套完整的方案。它包括完整的嵌入式PC机，WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。主要参数指标：
1、具有0.1fA的电流检测灵敏度，能提供精确的I-V测试;
2、最大电压源：200 V;
3、电压源设定最小分辨率：5uV;
4、最大电流源：100 mA
5、电流源设定最小分辨率：1.5 fA;
6、电流测量范围: 0.1 fA – 100 mA;
7、电流测量最小分辨：0.1 fA
8、测量单元的A/D情况：分辨率为22位，每个测量单元都有A/D转换器；
9、系统扩展性：（1）电流前置放大器的扩展能力；（2）脉冲I-V的扩展能力；